梅特勒XS205DU万分之一双量程分析天平，81/220g分析天平价格
XS分析天平
技术特点：
1.采用高精度分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求。
2.优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求。
3.GWPExcellence^TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作。
4.丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配置称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量。
5.安全可拆卸，清洗的玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁。
技术参数：
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型号
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最大称量值（g）
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可读性（mg）
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重复性（sd）（mg）
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线性误差（mg）
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典型稳定时间（s）
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秤盘尺寸（W×D）(mm)
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XS105DU
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41/120
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0.01/0.1
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0.02/0.1
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0.2
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4/1.5
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78×73
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XS205DU
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81/220
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0.01/0.1
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0.02/0.1
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0.2
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4/1.5
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78×73
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XS64
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61
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0.1
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0.1
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0.2
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1.5
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78×73
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XS104
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120
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0.1
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0.1
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0.2
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1.5
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78×73
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XS204
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220
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0.1
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0.1
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0.2
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1.5
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78×73
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XS204DR
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81/220
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0.1/1
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0.1/0.7
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0.5
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3.5/1.5
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78×73
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梅特勒XS205DU分析天平性能特点：
触摸屏（TouchScreen）
背亮式触摸屏使天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂，帮助您有效节省操作时间。
网格秤盘
有效降低称量室中气流对称量的影响，从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错，样品会直接散落在网格秤盘下的金属底盘上，
而不会沉积在秤盘上，因而不会影响称量结果，且不浪费您的样品。
ErgoClips(选件)
易巧称量组件，可轻松放置圆底烧瓶、试管等去皮容器，实现微量样品的直接加样。
密度测定
轻触一下按键，启动密度测定程序，天平将指导您逐步完成操作步骤并自动计算出密度结果。（需订购密度组件（选件）配合使用）
【联系方式】
联系人：马经理
热销电话：15908081039、0531-68629705
企业QQ：2388118207
公司地址：济南市工业南路51号